ellipsometry

美 [ɪlep'sɒmətrɪ]
英 [elɪp'sɒmɪtrɪ]
  • n.椭圆偏振计测量；椭圆计测量；椭圆率测量术；椭圆对源
  • 网络椭圆偏振技术；椭圆光度法；椭圆偏光仪

英汉

网络释义

n.
1.
椭圆偏振计测量
2.
椭圆计测量
3.
椭圆率测量术
4.
椭圆对源
1.
椭圆偏振计测量
2.
椭圆计测量
3.
椭圆率测量术
4.
椭圆对源

例句

释义:
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难度:全部全部,简单简单,中等中等,难难
1.
Owing to its advantages, ellipsometry and automatic ellipsometers can be used in many other fields and will gain good results.
并且，自动椭偏仪在其他领域的测量应用前景也很好。
www.ceps.com.tw
2.
The electro-optic index of PLZT thin films was measured by means of modulated ellipsometry.
利用调制式的椭偏仪测量了掺镧锆钛酸铅PLZT薄膜的电光系数。
www.dictall.com
3.
Imaging technique, interferometric method and ellipsometry are used in the defect detection of the thin film.
在薄膜缺陷检测领域，成像技术，干涉测量，椭偏测量等一系列测量手段都得到了应用。
www.fabiao.net
4.
SCI offers diverse tools for optical thin film design, material analysis, ellipsometry, and spectrophotometry.
为薄膜设计，材料分析，椭圆偏光法，分光光度测定法提供不同的工具。最近的光学薄膜软件包括：一。
lasercharlesjian.b2b.hc360.com
5.
Spectroscopic imaging ellipsometry (SIE) is used to characterize a nano film pattern on a solid substrate.
提出一种对固相基底上纳米薄膜图案进行表征的光谱椭偏成像系统。
www.opticsjournal.net
6.
Research on dynamic reflecting spectroscopic ellipsometry and its application in the measurement of thin films
动态椭偏光谱技术及其在薄膜测量中应用的研究
ilib.cn
7.
Automatic Ellipsometry Measurement Instrument for Anisotropic Materials
各向异性材料光学常数全自动椭偏测仪
www.ilib.cn
8.
Study of heterodyne ellipsometry for nanometer film measurement
纳米厚度薄膜外差椭偏测量技术的研究
service.ilib.cn
9.
Spectroscopic Ellipsometry Investigations of Amorphous Diamond Films Deposited with Filtered Arc
过滤电弧沉积非晶金刚石薄膜的光谱椭偏研究
ilib.cn
10.
Study of fabrication and spectroscopic ellipsometry of SBN thin films
铌酸锶钡薄膜制备及椭偏光谱研究
www.ilib.cn